開關(guān)設(shè)備的電流開斷過程是弧隙由小阻抗到高阻抗的變化過程。當(dāng)熔斷器中的電流從開斷瞬時(shí)起，西安熔斷器生產(chǎn)廠家其弧隙將會(huì)迅速?gòu)牧紝?dǎo)體轉(zhuǎn)變?yōu)榻^緣體，并且能承受電力系統(tǒng)加在弧隙上的恢復(fù)電壓，以阻止電流通過弧隙。

熔斷器分?jǐn)喙收想娏骱?，弧隙還是一個(gè)具有一定電阻的導(dǎo)體，在恢復(fù)電壓的作用下弧隙中就有電流通過，將此電流定義為弧后電流{ ( post-arccurrent)。

弧后電流研究，西安熔斷器生產(chǎn)廠家對(duì)于熔斷器的弧后電流研究，多為20世紀(jì)之前的研究，針對(duì)弧后電流的大小以及殘軀電阻等方向。

弧后電流國(guó)外研究現(xiàn)狀，1978年，M.R. Barrau在 PROC.IEE發(fā)表的文章Factors influencing the formation and structureof fuse fulgurites中首次提到 post-arc current的概念，并指出銀和鋁熔體的弧后電流均隨著熔體幾何尺寸的增大而增大，且相同幾何形狀的銀熔體的弧后電流往往小于鋁焰體弧后電流；

1992，波蘭羅茲工業(yè)大學(xué) Jakubluk K.， Lipski T在其論文 Dynamics of Fulqurite Formation

during Arcing in HRC Fuses中詳細(xì)闡述了熔斷器殘軀的形成過程，并給出了熔斷器弧后恢復(fù)過程集中在兩條平行路徑上；

一個(gè)是分散在石英砂中井與焰體未端電流連接的金屬層之間的間隙

第二個(gè)是沿著熔融的二氧化硅壁。

同年，在第七屆“ Switching Arc Phenomena國(guó)際會(huì)議上，羅茲工業(yè)大學(xué)的 Cwidak K， Lipski T.發(fā)表了 Post-arcresistance in h.b.c. fuses，將熔斷器的弧后恢復(fù)過程用殘軀電阻(熔斷器兩端恢復(fù)電壓與弧后電流的比值)來反應(yīng)Ehrhardt A， Nutch G.， Rother W發(fā)表了 Das Verhalten vonelektrischen Sicherungen nach Stromnull(西安熔斷器生產(chǎn)廠家弧后電流特性)，指出熔斷器弧后殘軀電陽(yáng)與溫度有很大關(guān)系，Cwidak K， Lipski T。在1995發(fā)表的 New results on thepost-arc fulgurite resistance of h.b.c. fuses也進(jìn)一步印證了這個(gè)觀點(diǎn)。